XL2 500 手持式矿石分析仪
  • XL2 500 手持式矿石分析仪

产品描述


速度快,操作简单
仅需“瞄准—测试”,数秒内便可检出矿石中约30多种元素的含量,并可实时显示分析数据、谱图;操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握

◆ 精度高,分析范围广
检测精度接近实验室级的分析水平,可分析较低含量(ppm级)**百分比含量(%)
 
◆ 简体中文显示
简体中文菜单操作,并具有英、日、德等多种操作语言选项
 
◆ 特殊构造
采用坚韧的LEXAN.塑料密封外壳,重量轻,坚固耐用封式一体化设计,防尘、防水、防腐蚀,抗冲击,可在任何地方安全使用

◆ 抗病毒能力强
内置一体化**操作系统,*外接PDA,运算速度快,具有病毒*功能

◆ 无损检测
与破坏性检测方法不同,样品在整个测试过程中无任何损坏

◆ 优化应用
高性能X射线探测器选项,可为矿产勘探、开采等不同过程中的分析应用,提供更加的、具有针对性的解决方案

◆ 先进的NDT软件
先进的Niton专有数据管理软件可以让您轻松设置用户登 录口令,生成定制报告,打印个性化的附有公司LOGO的 分析报告,通过PC机可实现对仪器的远程操控;仪器具有自动校准、诊断和故障报告功能,可通过Internet实现软件升级

◆ 灵活的通讯功能
蓝牙、USB等多种仪器连接方式,通讯方式非常灵活。数据上传下载,编辑、输出PMI报告非常方便

◆ 荣获奖项
尼通产品技术性能**,曾三次荣获素有“产品研发诺贝尔奖”之称的R&D 100科技研发大奖,是一获此殊荣的手持式XRF分析产品;2006年获得国际着名reddot design红点设计奖;2005年荣获工业设计优秀奖
 
技术参数:
 
项目/型号 XL2 500 XL2 950
重量 1.3kg
尺寸 244x230x95.5mm
激发源 高性能微型X射线管
Ag靶:45kv/80 μA大
高性能微型X射线管
Ag靶:45kv/100 μA大
探测器 高精度、高灵敏度、高分辨率硅半导体Si PIN探测器 高性能SDD探测器(GOLDD技术)
显示器 固定角度一体化彩色触摸屏
标准分析范围 Ti~U间,34种元素 Mg~U间,38种元素
数据传输 USB、蓝牙
安全保护 密码保护
标准分析模式 矿石模式、土壤模式
 
应用领域:
 
野外勘查(Exploration & Prospection)
多元素现场分析,可广泛应用于普查、详查的各过程,追踪矿化异常,扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品检测的数量,从而节约运输和分析费用
 
岩芯检测(DrillingExploration)
分析岩芯和其他钻探样品,建立矿山三维图,分析储量,可大大提高钻探现场即时决策效率
开采过程控制(MiningMapping & Ore analysis)
矿体边界圈定,矿脉走向判定,对开采过程进行精确管理和控制,对矿石品位进行随时检测
 
品位控制(Grade Control)
对精矿、矿渣、尾矿等矿物品位进行精确分析,为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判定依据
 
环境分析(Environmental Analysis)
对矿山周围环境,尾矿,粉尘,土壤污染物等进行分析与检测,评估矿山环境修复效果
土壤污染检测符合美国环保署推荐的EPA Method 6200方法,可有效检出**控制的RCRA重金属污染;空气,水等过滤介质分析符合美国NIOSH Method 7702及OSHA Methods OSSA1标准;空气尘埃中的铅含量分析符合美国OSS1标准
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